SEM-1 (Miroslav ŠLOUF - ÚMCH)

Základní principy SEM: schéma SEM mikroskopu, interakce elektronového svazku se vzorkem, čtyři základní režimy SEM: SE, BSE, EDX, STEM. Interpretace přímých obrazů SEM/SE,BSE,STEM:rozlišení, typy kontrastu, obrazová analýza. Interpretace spekter SEM/EDX: souvislost s atomovou strukturou, ruční indexace píků v EDX. Základy přípravy vzorků pro SEM: velké vzorky, mikroprášky, nanoprášky.

SEM-2 (Miroslav ŠLOUF - ÚMCH, Petr Wandrol - FEI)

Stručné opakování režimů SEM, které poskytují přímé obrazy (SE, BSE, STEM) a spektra (EDX, WDX) + stručné nastínění dalších možností SEM (EBSD, AES, CL...). Vysokovakuová a nízkovakuová SEM mikroskopie "na odraz" (HVSEM - LVSEM - ESEM) a "na průchod" (STEM - wetSTEM).Základy obrazové analýzy (převod obrázků na čísla). Základy 3D rekonstrukce (převod 2D obrázků na 3D objekty).

TEM-1 (Miroslav ŠLOUF - ÚMCH)

Základní principy TEM: schéma TEM mikroskopu, interakce elektronového svazku se vzorkem, čtyři základní režimy TEM: BF, DF, (SA)ED, EDX). Interpretace přímých obrazů TEM/BF,DF: rozdíly proti přímým obrazům v SEM; rozlišení, typy kontrastu. Interpretace spekter TEM/EDX: rozdíly proti spektrům v SEM; souvislost se strukturou, značení píků. Interpretace difrakčních obrazů TEM/(SA)ED.

TEM-2 (Mariana KLEMENTOVÁ - FZÚ)

Typy kontrastu v TEM. Amplitudový kontrast - difrakční kontrast (BF/DF), tloušťkové proužky, ohybové kontury, rozptylový kontrast, Z-kontrast - HAADF. Analýza dislokací v kovech. Fázový kontrast, základní pojmy a principy vysokorozlišovací mikroskopie (HRTEM): Jak vznikají HRTEM mikrofotografie a jak je interpretujeme. Jsou pro interpretaci nutné simulace? Jak vypadá běžná práce s TEM v režimu HRTEM.

ED-1 (Lukáš PALATINUS - FZÚ)

Základy difrakce na krystalických materiálech. Dále budou rozvedena specifika elektronové difrakce na monokrystalových a práškových vzorcích, zavedena Ewaldova konstrukce pro elektronovou difrakci, diskutován vliv tloušťky vzorku a popsány základní jevy souvicející s elektronovou difrakcí jako Kikuchiho linie. Na závěr přednášky bude popsána aplikace i omezení elektronové difrakce při určování mřížkových parametrů krystalů a jejich symetrie.

ED-2 (Lukáš PALATINUS - FZÚ)

Pokročilé difrakční metody, především metody CBED (difrakce s konvergentním svazkem) a PED (precesní elektronová difrakce). Budou diskutovány aplikace těchto metod na určení tloušťky vzorku, určování krystalové symetrie a kvantitativní strukturní analýzu.

EDX/WDX (Markéta JAROŠOVÁ - FZÚ)

Základní pojmy a principy elektronové mikroanalýzy, se zaměřením na metody WDS, EDS, jejich princip, experimentání uspořádání, vznik RTG záření, meření a vyhodnocení RTG spekter, aplikace v materiálových vědách, výhody a nevýhody, současné trendy.

EELS/EFTEM (Mariana KLEMENTOVÁ - FZÚ)

Pokročilá prvková analýza v TEM. Základní pojmy a principy metod: spektrospoie ztrát energie elektronů (EELS) a energiově filtrovaná TEM (EFTEM). Využití pro analýzu anorganických materiálů. Porovnání těchto metod s EDS.

Příprava vzorků

(A. MICHALCOVÁ - VŠCHT, J. HROMÁDKOVÁ - ÚMCH)

Příprava vzorků pro SEM a TEM (nanoprášky, mikroprášky, velké vzorky). Dále se budeme podrobněji zabývat především dvěma nejobtížnějšími preparačními technikami: (i) přípravou velkých tvrdých vzorků pro (S)TEM pomocí mechanického a iontového ztenčování a (ii) přípravou velkých měkkých vzorků pro (S)TEM pomocí ultratenkého řezání.