základy TEM (Miroslav ŠLOUF - ÚMCH)
TEM mikroskopie (Tecnai G2 Spirit Twin 120kV, s EDX detektorem) vyzkoušení čtyř základních režimů TEM mikroskopie (BF, DF, ED, EDX), interpretace získaných BF,DF obrazů z hlediska kontrastu, interpretace práškového ED záznamu = indexace difrakčních kroužků pomocí volně šiřitelných programů.
TEM (Jan DUCHOŇ - FZÚ-Slovanka)
TEM mikroskopie (Tecnai TF20 X-twin, 200kV)
Analýza dislokací pomocí TEM a HRTEM.
Příprava "tvrdých" vzorků (Petr SVORA - FZÚ-Slovanka)
Příprava vzorků pro TEM pomocí mechanického, ionotvého a elektrochemického slešťování.
Příprava "měkkých" vzorků (Miroslav ŠLOUF - ÚMCH)
Příprava polymerních vzorků pro pozorování v SEM a TEM.
PED + interpretace (Lukáš PALATINUS - FZÚ-Cukrovarnická)
Získání difrakčního obrazce monokrystalu v režimech SAED a PED, porovnání dat získaných oběma metodami, interpretace difrakčních obrazců: indexace, symetrie.
EFTEM/EELS (Marek Vronka - FZÚ-Slovanka)
TEM mikroskopie (Tecnai TF20 X-twin, 200kV, GIF, EDX)Prvková analýza v TEM. EFTEM/EELS/EDS.
SEM/FIB (Jaromír KOPEČEK - FZÚ-Slovanka)
Práce s elektronovým a iontovým svazkem. Rozdíly v zobrazení a interpretaci obrázků. Mikroobrábění iontovým svazkem. Orientace krystalů pomocí EBSD.
exkurze (Alena Michalcová - VŠCHT)
TEM mikroskopie (JEOL 2200FS, 200kV, EF, EDX)Transmisní elektronový mikroskop vybavený energiovým filtrem umožňuje pracovat při urychlovacích napětích do 200 kV. Přístroj je vybaven univerzálně a je proto vhodný k pozorování jak materiálových tak biologických vzorků.
